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薄膜盛會圓滿落幕！武漢嘉儀通硬核技術閃耀第十七屆全國薄膜技術研討會
- 分類： 品牌故事
- 作者：管理員
- 來源：本站
- 發布時間：2025-11-28
- 訪問量： 195
【概要描述】日前，第十七屆全國薄膜技術學術研討會暨中國真空學會薄膜專業委員會成立四十周年慶典在深圳南山圓滿落下帷···
薄膜盛會圓滿落幕！武漢嘉儀通硬核技術閃耀第十七屆全國薄膜技術研討會
【概要描述】日前，第十七屆全國薄膜技術學術研討會暨中國真空學會薄膜專業委員會成立四十周年慶典在深圳南山圓滿落下帷···
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日前，第十七屆全國薄膜技術學術研討會暨中國真空學會薄膜專業委員會成立四十周年慶典在深圳南山圓滿落下帷幕。這場為期三天的學術盛會匯聚了全國薄膜技術領域的頂尖院士、專家學者及企業代表超過300人，共同探討薄膜材料的前沿研究、制備工藝、應用拓展及產業化進程。
技術盛宴 嘉儀通硬核方案引關注
作為本次大會的承辦單位之一，武漢嘉儀通科技有限公司攜其創新成果精彩亮相，為薄膜材料在高低溫等復雜環境下的熱、電性能測試提供整體解決方案，成為會議期間備受矚目的焦點。
在大會的技術展示區，武漢嘉儀通集中展示了其在薄膜材料物性測量領域的最新成果，包括電輸運特性測試、熱物性測試和極端環境模擬三大技術序列的創新產品，為與會代表提供了全面的薄膜材料表征解決方案。
創新產品 精準把脈薄膜特性
電輸運特性測試方案深度解析薄膜“電性能”?；魻栃獪y試系統HET依據范德堡法，精準測量薄膜的載流子濃度、遷移率等關鍵參數，兼容從傳統硅基到第三代半導體的全面需求；薄膜熱電參數測試系統MRS專為薄膜設計，采用四線法測電阻與動態法測Seebeck系數，確保熱電薄膜材料的測量數據準確可靠。
熱物性測試方案精準把脈薄膜“熱管理”。薄膜熱導率測試系統TCT采用3ω方法，直接、精確測量薄膜的熱導率；熱膨脹系數分析儀TEA采用光干涉專利技術，實現無損檢測；相變溫度分析儀PCA利用材料相變前后反射光功率的突變來判定相變點，具備無損、快速、高靈敏度的優勢。
極端環境模擬方案打造可靠測試“舞臺”。快速退火爐RTP實現（RT-1200℃）的急速升降溫與均勻溫場；低溫恒溫系列采用先進溫控算法，為各種測試提供穩定精準的高低溫與變溫環境；探針臺LNP為晶圓、芯片等微納樣品提供精準的電學性能測試環境。
展望未來 共繪薄膜技術新藍圖
本次大會系統梳理了薄膜技術發展脈絡，集中展示了薄膜技術在基礎研究、技術攻關、產業突破領域的最新成果。未來，薄膜技術將聚焦“技術深耕”與“產業拓展”兩大核心方向，助力我國從“薄膜大國”向“薄膜強國”邁進。
武漢嘉儀通將繼續秉承“精準數據賦能前沿科研與產業突破”的理念，深化核心技術研究，緊扣國家戰略需求，為薄膜材料在半導體、新型顯示、新能源等戰略新興產業的高質量發展提供強有力的測試技術支撐，為推動薄膜技術與AI、量子科技等深度融合貢獻自己的力量。
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